Электроника

ВСТРОЕННЫЙ КОНТРОЛЬ электронных устройств, проверка работоспособности электронных устройств, выполняемая с помощью спец. средств контроля и обнаружения неисправностей (напр., генераторов стандартных сигналов, схем сравнения), входящих в состав данного устройства и конструктивно объединённых с ним в единое целое. Обычно системами В. к. снабжаются достаточно сложные микроэлектронные устр-ва (напр., микропроцессоры, микро-ЭВМ), реализованные в виде БИС (или СБИС).
Различают В. к. технологический и функциональный. В. к. первого типа применяется при создании БИС на раэл. стадиях их изготовления; В. к. второго типа — при приемно-сдаточных испытаниях и в процессе эксплуатации электронного устр-ва. В. к. предусматривает наличие в составе БИС дополнит, элементов, число к-рых зависит от вида контроля и типа БИС. Дополнит, элементы, выполняющие ф-ции В. к., создаются в едином технологич. процессе в основном рабочими элементами, в результате чего образуется единая конструктивная единица БИС-ВК. Наименьшая элементная избыточность требуется для организации технологич. В. к. (до 10—30% от общего числа элементов БИС). Элементная избыточность снижает выход годных БИС и уменьшает их надёжность, поэтому обычно средства технологич. В. к. после изготовления БИС ликвидируются (напр., выжигаются лазерным лучом). Но иногда их оставляют на микрокристалле БИС, если они занимают мало места и не влияют на работоспособность устр-ва.
Значительно больше дополнит, элементов требуется для обеспечения эффективного функцион. контроля БИС (до 200—300% от числа осн. функцион. элементов).
По полноте проверки функционирования БИС различают В. к. полный (проверяются все функцион. возможности БИС), частичный, или локальный (проверка работы отд. элементов или части устр-ва), тест-ориентированный (реализуется определённая группа контрольных тестов), процедурно-ориентированный (проверка работы БИС по результатам решения заданного набора задач), проблемно-ориентированный (проверка внутр. фиэ. или логич. состояния БИС  при  их  изготовлении,  испытаниях  или  эксплуатации).
В. к. обеспечивает проверку функционирования БИС в реальном масштабе времени, повышает качество контроля, что способствует увеличению выхода годных. БИС-ВК имеют обычно 1—2 вывода для подачи опросных сигналов и получения контрольной информации. Это позволяет создавать микроэлектронную аппаратуру с достаточно простой контроль но-диагностич. системой, причём для проверки работоспособности БИС-ВК часто бывает достаточно простейшего  ИЭмерИТ.   прибора.