ВЫХОДНОЙ КОНТРОЛЬ, совокупность контрольно-измерительных операций, проводимых в конце производств, процесса для выявления годных, некондиционных или потенциально негодных изделий. К В. к. часто относят раэл. испытания изделий на надёжность, а также испытания для определения допустимых границ изменения условии и режимов эксплуатации контролируемых изделий. Нередко помимо выявления годных и негодных ИЭТ в процессе В. к. осуществляется их разделение на группы по точности, идентичности параметров и др. В электронном приборостроении В. к. подвергаются практически все виды ИЭТ — от простых элементов (резисторов, конденсаторов, ПП диодов и т. п.) до сложнейших электронных устр-в (БИС, СБИС, микропроцессоров и др.). Результаты В. к. используются для управления качеством ИЭТ и увеличения процента выхода годных изделий.
В. к. осуществляется с помощью системы контрольно-нэмерит. устр-в, обеспечивающих измерение параметров изготовляемых ИЭТ и проверку их работоспособности при раэл. режимах. К контрольно-измерительным устр-вам, входящим в состав оборудования В. к. (ВКО), предъявляются повышенные требования, особенно по точности измерений — важнейшему определяющему фактору при выбраковке изделий и определении процента выхода годных ИЭТ.
Состав комплекса контрольно-измерит. устр-в для В. к. и предъявляемые к нему требования устанавливаются отдельно для каждого вида ИЭТ в техн. условиях на изделие. Сложность ИЭТ определяет сложность ВКО и его состав — от простейшего измерителя омического сопротивления резисторов до сложнейших измерительно-информац. комплексов с управлением от ЭВМ, к-рые применяются, напр., при В- к. БИС, СБИС, микропроцессоров, лазеров.
По мере совершенствования и усложнения ИЭТ увеличивается число контролируемых параметров и показателей, возрастают требования к точности их измерений. Это обусловливает необходимость опережающего развития контрольного оборудования с учетом тенденций развития контролируемых ЙЭТ (т. е. контроль и о-измври т. устр-ва должны разрабатываться и выпускаться до того, как начинается массовый выпуск соответствующих ИЭТ), модернизации существующего и разработки нового ВКО, к-рое обеспечивало бы требуемый уровень В. к. До 50-х гг. потребности серийного проиэ-ва наиболее массовых ИЭТ (резисторов, ПП диодов, транзисторов и т. п.) вполне удовлетворял выборочный по партиям иэделий В. к., осуществлявшийся практически вручную с использованием простейших измерит, средств (амперметр, вольтметр, омметр, источник калиброванного напряжения). Такой В. к. обеспечивал проверку от десятков до сотен изделий за 1 ч при погрешности измерений порядка 10—20%. С повышением требований к техн. уровню и качеству ИЭТ и увеличением их выпуска существенно изменились организация и оборудование В. к. Уже в 60-х гг. разработаны и получили широкое распространение автоматизир. контрольно-измерит. устр-ва с цифровой индикацией измеряемых величин, что способствовало повышению точности измерений в 2—3 раза. Кроме того, эти устр-ва позволили документировать результаты измерений непосредственно в процессе В. к. и передавать их на ЭВМ для статистич. обработки и определения причин брака. С 70-х гг. в проиэ-ве практически всех видов ИЭТ применяются автоматизир. контрольно-иэмерит. комплексы с управлением от ЭВМ. Такие комплексы обеспечивают непрерывный сплошной В. к. со ср. производительностью неск. тыс. ИЭТ за 1 ч; при этом погрешность измерений составляет 0,01 — 0,001%. Введение в состав комплекса ЭВМ позволяет автоматически по заданной программе устанавливать очерёдность измерений параметров и задавать нужные режимы измерений; одновременно проводить измерения на разных видах однотипных ИЭТ; корректировать погрешность измерений непосредственно в процессе измерений; осуществлять автоматич. разбраковку ИЭТ по любому заданному показателю; контролировать на раэл. стадиях технологич. процесс и активно влиять на его код; выполнять статистич. обработку результатов В. к. Автоматизир. комплексы В. к. функционируют в составе автоматизированных систем управления технологическими процессами на разл. участках произ-ва ИЭТ. Полный и всесторонний В. к. большинства сложных ИЭТ, таких, напр., как СБИС и микропроцессоры, возможен практически только на автоматизир. контрольно-иэмерит. комплексах, обеспечивающих проведение В. к. по всем параметрам ИЭТ, в широком диапазоне частот (от неск. Гц до сотен ГГц), а также в импульсных режимах с частотой повторения импульсов до неск. МГц.
Выходной контроль