Электроника

НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ, совокупность методов измерения и контроля показателей качества изделия без изменения присущих ему свойств, параметров, характеристик. В отличие от обычнь1х методов контроля и измерений (напр., геометрич. размеров или электрич. характеристик), устанавливающих соответствие изделия заданным требованиям или определяющих значения его параметров, Н. к. позволяет получать дополнит, информацию, прямо или косвенно характеризующую поведение этого изделия во времени; исключать (отбраковывать) на стадии изготовления потенциально ненадёжные изделия со «скрытыми» дефектами (к-рые обычно являются причиной отказов), в результате чего возрастает вероятность безотказной работы выпускаемых изделий, т. е. повышается их надёжность; отбирать наиболее стойкие изделия с заданными с в-вами для работы в особо сложных условиях; определять причины возникновения «скрытых» дефектов, чтобы вовремя устранять их и тем самым уменьшать вероятность отказа изделия во время эксплуатации.
Для изделий электронной техники разработаны и широко используются на всех этапах «жизненного цикла» (от кон-структивно-технологич. разработки до анализа причин от казов в процессе эксплуатации) оптич., тепловые, акустич., радиоволновые, радиационные и др. методы Н. к., основанные на анализе взаимодействия эл.-маги излучения с объектом контроля, регистрации тепловых полей и исследовании распространения упругих колебании в контролируемом объекте, изучении структуры материалов при помощи обычных и электронных микроскопов, спектрометров, эллипсометров и др. Используя раэл. методы Н к., решвют такие задачи, как обеспечение формоустоичивости и размерной воспроизводимости ИЭТ, хорошей повторяемости требуемых св-в, составе и структуры материалов; проверка качества соединений элементов из разнородных материалов; проверка оптимальности схемно-топологич решений ПП структур с точки зрения их геометрии, теплового режима, потенц. контрасте и др. характеристик; оценка качества сборки и герметизации электронных приборов, печатных плат; определение электрич. и др. параметров ИЭТ.
Состав и назначение техн. средств Н. к определяются задачами в системе контроля качества продукции. Так, напр, для решения достаточно узкой задачи отбора электронных приборов с пониж. уровнем шумов применяют измерители шумов, измерители нелинейных искажении, анализаторы ВАХ. В ряде случаев при разработке или проиэ-ве ИЭТ, а также при анализе причин их отказов используют комплексы оборудования, причём в одном таком комплексе Н. к. может осуществляться несколькими раэл. методами. Так, универсальный лазерный сканирующий микроскоп позволяет получать высококачеств, изображение контролируемого объекта или части его (оптич. метод), регистрировать индуцир. ток (электрофиэ- метод), возбуждать в контролируемом объекте гиперэвуковые колебания (акустич. метод). Такие комплексы, как правило, имеют в своем составе мини- или микро-ЭВМ для управления работой комплекса и обработки результатов контроля (исследования).
Строго говоря, между обычным и нераэрушающим контролем нет чёткой границы, кроме случаев, когда для определения особо важных св-в изделия (напр., механич. прочности, термостойкости конструкц. материалов, твёрдости кристаллов, растворимости в-ва) его намеренно подвергают  воздействию   предельных   нагрузок  (до  разрушения. необратимой деформации, воспламенения). Кроме того, существуют методы контроля, к-рые в равной мере можно отнести как к обычным, так и к нераэрушающим. Так, при использовании растрового электронного микроскопа возможно загрязнение исследуемого объекта ч-цами рабочего в-ва вакуумных насосов, в нём может образоваться электрич. заряд, «встроенный** электронным пучком микроскопа
Методы и техн средства Н. к, используемые для выявления структурных дефектов (трещин, пор, инородных включении, загрязнении и т   п ), наэ. дефектоскопией.