ПЛАЗМЕННЫЕ МИКРООБРАЗОВАНИЯ ЭВП, локализованные потоки плазмы, возникающие при электронной бомбардировке поверхности электрода, обусловленные десорбцией и последующей ионизецией потоков геэе и пера из областей с дефектеми структуры поверхностного слоя. Плотность атомов в П. м. на неск. порядков превосходит плотность остаточных газов в ЭВП. П. м. наблюдаются при бомбардировке электронным потоком с плотностью мощности более 50—150 Вт/см\ Они имеют вид факелов, наиболее характерные размеры к-рых порядка долей мм, время существования от единиц до десятков ч; при этом плотность П. м. на бомбардируемой поверхности составляет десятки —сотни см- , темп-ре 10*—10 К Доля мощности электронного потоке, преобразуемая в мощность излучения П. м., может достигать 10%. Параметры П. м. зависят от св-в материала электрода, способов обработки его поверхности, режимов электрон-нон бомбардировки. П. м оказыввют отрицат. действие на параметры н эксплуатец. характеристики ЭВП: инициируют нарушение электрической прочности, вызывают ионную фокусировку электронного луча на поверхности электроде и возбуждение паразитных колебаний, повышают уровень шумов. Излучение П. м. используют для целей дефектоскопии, контроля качества поверхности, а текже при* оценке работоспособности материалов в условиях интенсивных электронных потоков и т. д.